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沃林数智 Wallin Data Intelligence准备试点

I.07.06 · Electronics Manufacturing / 电子制造

SPI/AOI 缺陷与参数闭环

SPI、AOI 产生大量误报和缺陷数据,工程师调程序后没有验证同类缺陷是否下降,问题难关联到印刷或贴装条件。

BUSINESS PROBLEM

为什么这个问题值得进入试点?

SPI、AOI 产生大量误报和缺陷数据,工程师调程序后没有验证同类缺陷是否下降,问题难关联到印刷或贴装条件。

ACCOUNTABLE OWNER

SMT 工艺经理

最终业务决定与人工批准必须由该岗位或试点中重新指定的具名 Owner 完成。

AGENT OPERATING LOOP

制程缺陷 Agent如何参与,但不越过人工边界。

以下是参考运行设计,不表示正在执行。

  1. 01
    归并焊膏与贴装缺陷读取已授权上下文
    设计态
  2. 02
    对齐钢网、程序、料站和班次保留来源与中间状态
    设计态
  3. 03
    建议参数/程序变更保留来源与中间状态
    设计态
  4. 04
    验证趋势形成待验收业务工件
    待人审
PROFESSIONAL SYSTEM SURFACE

电子制造专业工作面。

BOM、元器件、NPI 与制造追溯;组件根据案例业务对象生成。

待授权系统SPIAOIMES贴片机QMS
关键业务对象board_serialcomponentpaddefectprogram_revprocess_conditionaction
MODULE 01

Defect Map

合成演示
SPIboard_serial待试点数据接入
  • 来源与版本可定位
  • 异常保留人工判断
  • 结果等待正式回读
MODULE 02

Process Correlation

合成演示
AOIcomponent待试点数据接入
  • 来源与版本可定位
  • 异常保留人工判断
  • 结果等待正式回读
MODULE 03

Program Diff

合成演示
MESpad待试点数据接入
  • 来源与版本可定位
  • 异常保留人工判断
  • 结果等待正式回读
MODULE 04

Verification Trend

合成演示
贴片机defect待试点数据接入
  • 来源与版本可定位
  • 异常保留人工判断
  • 结果等待正式回读

所有编号、状态和图形均为合成演示;真实试点必须由权威系统数据、权限与回读结果替换。

DESIGNED CLOSED LOOP

设计闭环

调整动作与缺陷复发率绑定,误报规则版本受控。

ACCEPTANCE OBSERVATION

验收观察

工艺反馈:缺陷不再只按 PPM 汇总,可回到具体焊点和条件。

FINAL ARTIFACT

完成证据

形成可定位来源、人工决定、动作边界与正式系统回读的案例证据包。

NEXT EXPLICIT ACTION

把这个案例变成你的试点草稿。

确认真实问题、系统、Owner、人工门禁和验收窗口后,再决定是否接入数据或执行动作。